BS EN 60749-8-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.密封

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 15:24:58  浏览:9020   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices.Mechanicalandclimatictestmethods.Sealing
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.密封
【标准号】:BSEN60749-8-2003
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2003-07-03
【实施或试行日期】:2003-07-03
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;温度变化;气候;气候试验;组件;定义(术语);尺寸规格;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境;环境测试;环境试验;易燃性;热学;集成电路;漏泄试验;机械测试;潮气;耐力;密封件;半导体器件;半导体;温度;试验;密封性;外观检查(测试)
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Leaktests;Mechanicaltesting;Moisture;Resistance;Seals;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofIEC60749isapplicabletosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits)Theobjectofthistestmethodistodeterminetheleakrateofsemiconductordevices.NOTEThistestisidenticaltothetestmethodcontainedinclause5ofchapter3ofIEC60749(1996),amendment2,apartfromtheadditionofthisclauseandclause2andthesubsequentrenumbering.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语