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BS 6431-11-1983 地面瓷砖和墙面瓷砖.第11部分:吸水率的测定方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-30 01:11:09  浏览:8201   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Ceramicfloorandwalltiles.Methodfordeterminationofwaterabsorption
【原文标准名称】:地面瓷砖和墙面瓷砖.第11部分:吸水率的测定方法
【标准号】:BS6431-11-1983
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1983-12-30
【实施或试行日期】:1983-12-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:墙面饰层;铺地砖;墙面贴砖;面砖;吸水试验;吸水率;陶瓷;地板覆盖物
【英文主题词】:wallcoverings;flooringtiles;walltiles;tiles;floorcoverings;waterabsorption;water-absorptiontests;ceramics
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q31
【国际标准分类号】:91_100_25
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
英文名称:Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 6616-1995
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1986-07-26
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:万向硅峰电子股份有限公司
起草人:楼春兰、朱兴萍、方强、汪新平、戴文仙
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20065621-T-469
适用范围

本标准规定了用非接触涡流测定半导体硅片电阻率和薄膜薄层电阻的方法。
本标准适用于测量直径或边长大于25mm、厚度为0.1mm~1mm 的硅单晶切割片、研磨片和抛光片的电阻率及硅薄膜的薄层电阻。测量薄膜薄层电阻时,衬底的有效薄层电阻至少应为薄膜薄层电阻的1000倍。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
ASTM E691 引导多个实验室测定试验方法的惯例

所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
基本信息
标准名称:各种发射类型的无线电接收机测量方法 第八部分:调频电报系统专用接收机的射频测量
英文名称:Methods of measurement for radio receivers of various classes of emission-Part 8: Radio-frequency measurements on specifical receivers for frequency-modulated telegraph systems
中标分类: 医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理
发布日期:1987-12-17
实施日期:1987-12-17
首发日期:1900-01-01
作废日期:2010-01-20
出版日期:1900-01-01
页数:8页
适用范围

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前言

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引用标准

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所属分类: 医药 卫生 劳动保护 医药 卫生 劳动保护综合 技术管理

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